.HP-OW光学测头：应用白光共聚焦技术，可针对各种表面工件进行高精度的非接触测量。
HP-OW测量范围为几毫米，同时实现纳米级的分辨率。±30°的大测量角度，使其适用于更多应用，从微小特征到大面积测量。通过应用HR-R自动更换架，可实现与其它不同测头的自动更换。
HP-OW测头有HP-OW-2.14和HP-OW-2.61两种型号，可根据测量应用选择不同的测量范围、工作距离等。