HP-S-X1 扫描探测系统

HP-S-X1是高精度连续扫描测头家族，支持各种标准测量模式。例如：
单点触发测量，自定心测量和连续高速扫描测量;
HP-S-X1测头利用不同的扫描模块，可分别携带不同长度的测针（含吸盘长度），且其仅30mm直径的紧凑结构允许测头最大限度的接近被测工件，并可深入工件内部进行测量。
HP-S-X1S: 竖直方向20～115mm，水平方向0~20mm
HP-S-X1H/HP-S-X1H: 竖直方向20～225mm，水平方向0～100mm
最小测针球径可达0.1mm，更易测量微小特征