HP-C-VE测头是用于CMM系统的光学影像测量系统。2D光感CCD整合发光二极管实现一定视图区域内的工件测量，同时软件的光强调整完善了测量区域的照明条件。在每一个视图区域可以同时选择一个或多个测量对象（如孔径，边界等）。
拥有HP-C-VE系统可以同时实现多传感器组合完成工件测量，并可支持多种测头更换架，完成影像系统到触测扫描系统的转换。